← العودة للقائمة
JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3
الفئة أالفهرسة والمؤشرات
SJR · عبر Scimago
0.437
ربيع SJR · عبر Scimago
Q2
مؤشر الاستشهاد (سنتان) · عبر OpenAlex
0.00
مؤشر h (OpenAlex) · عبر OpenAlex
48
مؤشر h (Scimago) · عبر Scimago
20
المقالات المنشورة · عبر OpenAlex
1675
الاستشهادات · عبر OpenAlex
17616
التصنيفات
Atomic and Molecular Physics, and Optics (Q2)Condensed Matter Physics (Q2)Electrical and Electronic Engineering (Q2)Mechanical Engineering (Q2)Electronic, Optical and Magnetic Materials (Q3)
مؤشرات إرشادية من مصادر مفتوحة؛ ليست عوامل تأثير رسمية. — حُدّثت البيانات في 3/6/2026
ISSN1932-5150
E-ISSN2708-8340
الناشرSPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
وصول مفتوحلا